Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM)

Skaningowa mikroskopia elektronowa jest jedną z popularniejszych metod mikroskopii elektronowej, tuż obok transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM). W SEM powiększony obraz otrzymuje się za pomocą wiązki elektronowej, odchylonej i skupionej przez specjalne soczewki, co pozwala uzyskać znacznie lepszą zdolność rozdzielczą niż w mikroskopii optycznej. Istotą tej metody jest skanowanie powierzchni próbki nanometrową wiązką elektronów i odbieranie sygnałów z powierzchni próbki w postaci elektronów wtórnych (SE) lub wstecznie rozproszonych (BSE).

Skaningowa mikroskopia elektronowa pozwala m.in. na:

• badania struktury (określenie mikrostruktury stopów, badanie jakości warstwy nawęglonej),
• badania topografii przełomów (badania fraktograficzne przełomów),
• badania morfologii powierzchni (badanie jakości powierzchni powłok ochronnych, diagnozowanie zniszczeń korozyjnych, ognisk i produktów korozji).