Rentgenowska spektroskopia fotoelektronów (XPS)

Rentgenowska spektroskopia fotoelektronów (XPS) jest techniką umożliwiającą, w porównaniu do zwykłej spektrometrii fotoelektronowej, na przeprowadzenie analizy elektronów z wewnętrznych powłok atomowych.

Wynik analizy stanowi wykres natężenia od energii wiązania elektronu w elektronowoltach, co pozwala na dokładną identyfikację pierwiastków występujących na powierzchni badanego obiektu oraz ich stany elektronowe, badanie pozwala na m.in. analizę produktów korozji.